I GNSS: DALL'INQUADRAMENTO AL RILIEVO DI DETTAGLIO12 - 14 SETTEMBRE 2012 AULA MAGNA FACOLTA' DI INGEGNERIA MODENA   Pieghevole.pdf
I GNSS (Global Navigation Satellite Systems) rappresentano una delle tecniche di rilievo più interessanti da un punto di vista della ricerca e delle applicazioni professionali.
Le loro applicazioni come tecnica di rilievo per la realizzazione dei sistemi di riferimento, per la definizione di reti di inquadramentolocale e di monitoraggio e per varie tipologie di rilievo di dettaglio (aggiornamento di cartografia e GIS, aggiornamento catastale, tracciamento di opere di ingegneria, ecc.) sono in continua evoluzione e diffusione.
La SIFET si propone quindi di presentare un quadro aggiornato dello sviluppo di questa tecnica di rilievo, offrendo un panorama esaustivo delle attività di ricerca in atto a livello nazionale e internazionale e delle ricadute che tali ricerche hanno e avranno a livello professionale nei prossimi anni.
Il tema del Convegno SIFET 2012 apre una stagione di appuntamenti annuali che intendono affrontare le tecniche di rilievo di base di interesse dei soci SIFET offrendo ai soci e alle persone interessate la possibilità di apprezzare le potenzialità delle tecniche di rilievo metrico e di aggiornarsi sulla loro evoluzione.
Il Convegno SIFET 2012 si propone anche come momento formativo, oltre che informativo, sulla tecnica GNSS offrendo in questo modo, anche a chi si avvicina per la prima volta aqueste tematiche, la possibilità di accrescere il proprio bagaglio conoscitivo in modo graduale ed efficace.
Corsi di aggiornamento
11 Settembre: 9.00 -- 13.00
Corso di base: I sistemi GNSS
11 Settembre: 14.00 -- 18.00
Corso specialistico: Tecniche di misura GNSS e trattamento dei dati - I parte.
12 Settembre: 9.00 -- 13.00
Corso specialistico: Tecniche di misura GNSS e trattamento dei dati - II parte.Scadenze importanti
15 Giugno
Termine ricevimento dei riassunti dei lavori proposti
8 Luglio
Comunicazione dell'accettazione dei lavori e invio del programma
preliminare agli autori
1 Settembre
Invio articoli estesi
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Concorso per gli Istituti di Istruzione Secondaria
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La SIFET e il Ministero della Pubblica Istruzione dell'Università e della Ricerca, promuovono un concorso per l'anno scolastico 2011-2012, riservato agli studenti degli ultimi anni delle scuole superiori che prevedono nel corso di studi l'insegnamento della Topografia e della Fotogrammetria, per il migIiore lavoro di ricerca in campo pluridisciplinare, con particolare riguardo alle discipline suddette.
Bando SIFET-MIUR 2011-2012
I lavori potranno consistere in uno (o più) dei seguenti elaborati:
- ricerche su temi, riguardanti l'ultimo anno del corso di studi, inerenti la Topografia, la Cartografia e la Fotogrammetria. Per ricerche non si intende una mera riproposizione dei contenuti previsti nei programmi minieriali, ma studi o approfondimenti condotti dagli allievi che costituiscano una occasione di aggiornamento o ammodernamento e comunque un ampliamento di detti programmi;
- rilievi topografici e/o fotogrammetrici di opere d'arte, monumenti, siti di rilevante interesse storico, archeologico, paesaggistico, ecc.;
vedi seguito della pagina: GRIGLIA
DI VALUTAZIONE DEI LAVORI |
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